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光电测径仪不同外径尺寸的精度提升方法

发布时间:2022-10-25 05:43 作者:爱游戏app 点击: 【 字体:

本文摘要:章节基于CCD的尺寸测量一般使用非认识测量方式,由于CCD器件有精度高、动态性能好、便于同计算机构成高性能测控系统等特点,被普遍的应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。下面就几种测量方案及误差展开分析。 1、微小尺寸测量当被测尺寸L1mm时,如果使用通过光照,必要朗读体现被测尺寸大小的电荷信号的测量方法,则产生相当大的测量误差。

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章节基于CCD的尺寸测量一般使用非认识测量方式,由于CCD器件有精度高、动态性能好、便于同计算机构成高性能测控系统等特点,被普遍的应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。下面就几种测量方案及误差展开分析。

1、微小尺寸测量当被测尺寸L1mm时,如果使用通过光照,必要朗读体现被测尺寸大小的电荷信号的测量方法,则产生相当大的测量误差。光电测径仪使用小孔光学实像缩放的方法展开测量,光电测量径仪对0.1~10mm范围内的轧材测量精度可以超过0.003mm,实像微米级的外径尺寸在线测量。2、一般尺寸测量当被测工件尺寸L符合1mmLb时,可以使用平行光光学法展开测量,该测量方案比较比较简单,只必须通过计数器检测出有被工件挡光部分CCD光敏元长度,才可测得被测工件尺寸。

另设工件被测尺寸为L,CCD挡光部分所放入的计数器脉冲数为N,脉冲当量为s,则L=Ns(cosθ)式中,θ为平行光线与CCD光敏面法线之间的夹角。误差分析:由上式由此可知,测量误差ΔL为:ΔL=(sΔN+ΔsN)cosθ-Ns(sinθ)Δθ(5)Δs与CCD的像敏元尺寸及像敏元件中心距精度涉及,一般可以超过0.01mm;ΔN与所搭配的计数器有关,也可以超过很高精度,所以,该方案需要构建高精度尺寸测量。

3、较小尺寸测量当被测尺寸小于CCD感光面尺寸时,使用增大光学测量法。测量原理与一般尺寸测量完全相同,由小孔光学法,构建被测尺寸增大光学在CCD光敏面上,超过测量目的。4、大尺寸测量当被测工件尺寸充足大,可以使用边缘检测原理构建大尺寸测量的目的。

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边缘检测原理是使用两套CCD测量系统构建大尺寸工件边缘测量,然后将两套CCD测出的边缘方位与两CCD比较方位值综合一起,得出结论被测工件尺寸。通过转变两CCD之间的距离,来构建星型大尺寸测量。

这种方法测量精度可以高于0.05mm。结语以上即为CCD生产的光电测径仪提升测量精度的非常简单方法,需要有效地的使得被测物的测量精度更高,增大测量误差,构建高精度的检测。


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